瀏覽人次:375

王樹森

  • 公司名稱:
    泰傳科技股份有限公司
  • 公司地址:
    桃園市中壢區青峰路一段57號6樓
  • 銷售產業別:
    • 封裝測試
    • 電子組裝
  • 業務地區:
    • 台灣北區
    • 台灣中區
    • 台灣南區
    • 大陸地區
  • 產品分類:
    • 量測/校正設備/部品
    • 檢測/監測設備/部品
    • 儀器設備維修/校正
  • 銷售品牌:

    Hitachi

  • 銷售實績:

    日月光,矽品,南亞電路板,欣興電子

  • 產品簡介:
    Hitachi X-ray螢光膜厚儀 台灣總代理

商品資訊

X射線螢光鍍層厚度測量儀

型號 / FT110A 系列
1. 通過自動定位功能提高操作性:測量樣品時,以往需花費約10秒的樣品對焦,現在3秒內即可完成,大大提高樣品定位的操作性。
2. 微區膜厚測量精度提高:通過縮小與樣品間的距離等,致使在微小準直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。
3. 多達5層的多鍍層測量:使用薄膜FP法軟體,即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。
4. 廣域觀察系統(選配): 可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。
5. 對應大型印刷線路板(選配): 可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。
6. 低價位:與以往機型相

X射線異物分析儀

型號 / EA8000A
特點
1. 可在幾分鐘內對250×200 mm的樣品檢測出20 µm的金屬異物
例如要檢測250×200 mm(約B5尺寸)的電池電極板中20 µm的金屬異物,以往的X射線透視檢查儀需要十小時左右的攝影時間。株式會社日立高新技術科學通過新型X射線透視方法的開發,成功縮短了時間。檢測速度成功達到了以往的100倍以上,可在3~10分鐘內完成
2.通過影像處理自動檢測出異物
針對快速拍攝的250×200 mm的X射線投射圖進行全範圍的快速圖像處理,自動檢測出異物點。
3. 對於檢測出的異物位置自動進行元素分析
只針對自動檢測出的異物位置進行X射線熒光掃描,自動