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科技業找物料

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林儒慶

  • 公司名稱:
  • 公司地址:
    新北市淡水區中正東路二段69-10號7樓
  • 銷售產業別:
    • 半導體
    • 封裝測試
    • 生醫產業
  • 業務地區:
    • 台灣北區
    • 台灣中區
    • 台灣南區
  • 產品分類:
    • 精密零件加工
    • 光學元件/部品
    • 量測/校正設備/部品
  • 銷售品牌:

    Leica顯微鏡

  • 產品簡介:
    LEICA 顯微鏡系統
    LEICA 雷射掃描共軛焦顯微鏡
    LEICA 超解析顯微影像系統
    Hamamatsu 數位玻片掃瞄系統
    ASI 染色體與病理切片分析系統
    CherryTemp超高速瞬間溫控檯
    Tomocube 無螢光標記活細胞全息影像系統
    ANDOR 科研相機及 Imaris 影像系統
    LifeCanvas 組織澄清透明化處理系統
    顯微鏡自動化與相關設備
    影像控制分析軟體
    顯微操作注射與組織切割系統
    半導體及工業用顯微鏡
    古物修護鑑識設備
    其它研究檢測儀器
    產品與應用技術
    維修與技術支援

商品資訊

LEICA 實體顯微鏡

LEICA M-系列, 實體顯微鏡 (平行光學)

LEICA M205 A
全世界第一台同時結合 Apochromatic 光學與獨家採用光學融合 (FusionOptics) 設計. 突破傳統光學理論的極限 !

獨家電控數位式控制, 包括變焦 (電控觀察倍率), 調焦, 雙光圈, 電控載物檯.

獨家 APO 變焦比達到 20.5 : 1, 解析達到 1050 lp/mm, 比傳統實體顯微鏡的光學解析提升 25% 以上, 景深對比提高 65% 以上. 帶給使用者的效益是同時提高成像倍率與分辨力, 也同時創造更長的工作距離, 最高的成像景深, 產生對比更銳利的立體影像效果.

LEICA鑑識比對顯微鏡

LEICA FS4000
LEICA 獨家的微物鑑識比對顯微鏡, 是獨步全球. 市占率幾近 100%.

LEICA FS 4000 配置 DM4000 微電腦控制顯微鏡, 具有電控比對鏡, 應用包括兩個實體影像的分離, 重疊, 合併., 三種觀察模式. 可搭配 APO 級光學鏡頭 1.25x - 100x, 成像飽和自然, 對比鮮明.

專利的 Variolux 濾色鏡, 使用在穿透光模式, 可確保顏色對比完全一樣, 以便精確判讀顏色差異的偽造文書, 或, 微物殘跡.


應用領域包括槍彈痕跡比對, 工具痕跡比對, 文件偽造鑑識, 火災殘跡檢驗 ... 等.