林儒慶
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公司名稱：
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公司地址：新北市淡水區中正東路二段69-10號7樓
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銷售產業別：
- 封裝測試
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業務地區：
- 台灣北區
- 台灣中區
- 台灣南區
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產品分類：
- 精密零件加工
- 光學元件/部品
- 量測/校正設備/部品
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銷售品牌：
Leica顯微鏡
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產品簡介：LEICA 顯微鏡系統
LEICA 雷射掃描共軛焦顯微鏡
LEICA 超解析顯微影像系統
Hamamatsu 數位玻片掃瞄系統
ASI 染色體與病理切片分析系統
CherryTemp超高速瞬間溫控檯
Tomocube 無螢光標記活細胞全息影像系統
ANDOR 科研相機及 Imaris 影像系統
LifeCanvas 組織澄清透明化處理系統
顯微鏡自動化與相關設備
影像控制分析軟體
顯微操作注射與組織切割系統
半導體及工業用顯微鏡
古物修護鑑識設備
其它研究檢測儀器
產品與應用技術
維修與技術支援
LEICA 實體顯微鏡
LEICA M-系列, 實體顯微鏡 (平行光學) LEICA M205 A 全世界第一台同時結合 Apochromatic 光學與獨家採用光學融合 (FusionOptics) 設計. 突破傳統光學理論的極限 ! 獨家電控數位式控制, 包括變焦 (電控觀察倍率), 調焦, 雙光圈, 電控載物檯. 獨家 APO 變焦比達到 20.5 : 1, 解析達到 1050 lp/mm, 比傳統實體顯微鏡的光學解析提升 25% 以上, 景深對比提高 65% 以上. 帶給使用者的效益是同時提高成像倍率與分辨力, 也同時創造更長的工作距離, 最高的成像景深, 產生對比更銳利的立體影像效果.
商品介紹
LEICA 實體顯微鏡
LEICA鑑識比對顯微鏡
LEICA FS4000 LEICA 獨家的微物鑑識比對顯微鏡, 是獨步全球. 市占率幾近 100%. LEICA FS 4000 配置 DM4000 微電腦控制顯微鏡, 具有電控比對鏡, 應用包括兩個實體影像的分離, 重疊, 合併., 三種觀察模式. 可搭配 APO 級光學鏡頭 1.25x - 100x, 成像飽和自然, 對比鮮明. 專利的 Variolux 濾色鏡, 使用在穿透光模式, 可確保顏色對比完全一樣, 以便精確判讀顏色差異的偽造文書, 或, 微物殘跡. 應用領域包括槍彈痕跡比對, 工具痕跡比對, 文件偽造鑑識, 火災殘跡檢驗 ... 等.
商品介紹
LEICA鑑識比對顯微鏡
