FAMES試產線的核心目標是開發一套能支援高性能、低功耗新晶片架構的技術組合,特別著重於10奈米及7奈米製程節點的FD-SOI(fully depleted silicon-on-insulator)技術,以及嵌入式非揮發性記憶體(eNVM)、射頻元件、3D整合技術及電源管理方案。這些技術旨在實現混合訊號應用(結合數位、類比與射頻功能)的新晶片設計方法。FD-SOI技術已被意法半導體(STMicroelectronics)和格芯(GlobalFoundries)等主要公司採用,並在多樣化的全球電子產品中得到應用。該計畫採「More than Moore」策略,強調將不同功能整合至單一系統中,而非僅依賴縮小電晶體尺寸來推動創新。